attos 芯片测试新挑战？Attos ATE设备让检测更简单精准

attos 芯片测试新挑战？Attos ATE设备让检测更简单精准

依据行业调研所呈现的数据表明, 芯片行业的产值处于持续提升的态势之中, 并且其营收也始终在不断地增长起来, 与此同时, 芯片行业在整个领域的地位受到了大众的广泛关注。光刻机在芯片领域毫无疑问占据着最为顶尖的位置, 然而一颗芯片最终获得成功所依赖的因素并不仅仅局限于光刻这一个部分, 测试这个环节对于芯片的质量而言有着不容得以忽视的重要意义。

不管是尺寸更小的芯片, 还是当下热门方式的芯片, 都给芯片测试环节生出了更高挑战, 对测量和测试复杂度都持有了更高要求。

自动化测试设备（ATE）

以下改写后的句子: ATE（即Test）在功能用途方面, 起着自动化以及简化验证被测物（也就是DUT）功能与参数性能的作用, ATE设备在晶圆生产以及封装的流程里有着大量应用, 像针对晶圆上每一个单独的集成电路，运用特殊测试模式测试有没有功能缺陷（此为Probe Test）这样的情况。

再有就是, 芯片完成封装后, 要去验证此芯片是不是符合设计要求, 能不能满足相应的交直流电气性能以及相应规范（Final Test）。上述这些测试做完之后, 芯片才会走向后面的模块化/系统板, 再到最终产品应用阶段, 所以ATE设备在IC测试里起着极为重要的作用。

对于市场而言, IC制造商怀揣着降低测试成本的期望, 所以提出了ATE设备价格须不能过于昂贵的要求。高质量的测试有着高覆盖率的要求, 大批量并行测试同时也有着更高通道密度、更低单位成本以及功耗等方面的要求, 并且测试成本并不依从摩尔定律, 故而降低测试成本成了未来持续存在的挑战。

自动测试技术的趋势以及挑战, 主要聚焦于高性能计算、存储器、模拟及射频、便携产品这四大板块, 其体现为增加吞吐量, 降低测试成本, 提高功率密度, 要求更高的测试速度以及带宽, 并且ADI在上述的各个方向都有着完善的布局。

ADI 的自动化测试产品

ASSP

ASSP, 也就是其意为专用标准产品, 是那种专用于特定应用市场, 且售卖给多用户的集成电路芯片, 它合了模拟、数字以及混合信号产品, 目的在于执行特定功能或者功能集, 是以现成的方式提供给产品和系统设计人员, 具备这样情况的各种公司。

最初被设计成仅供单个客户去使用的ASIC的ASSP, 在最初目的达成之后, ASIC就能渐渐作为ASSP来广泛销售出去, 其他制造商还能够把它们融入到自身产品当中, 这样做可显著削减成本, 还能让公司更快速地把产品推向市场。

产品分类

ASSP主要分成三类, 其中, PE也就是Pin呢以及这是一个发送或者接收激励的、属于数字驱动以及接收的装置, DPS即Power或者Power, 它是那种能给被测物也就是DUT依照需求供电的、属于可编程的电源, PMU啊就是单位, 它主要是为被测物也就是DUT去测量电气参数的、属于参数测量的单元。

能够用于产生以及接收DUT相关数字信号的PE, 具备高时域精度, 同时拥有高工作频率, 就比如说对于ADI而言, 其频率处于10MHz到X GHz范围, 而且每一个测试机呈现出通道数量多, 并且集成度高的特点。

用于输出以及测量电压与电流的PMU, 对测力有着较高要求以达成测量精度, 一般情况下, 电流所涵盖的范围高大到100 mA, 电压涉及的范围高大到25V。

DPS是一种可编程电源, 它能按照需求给被测物（DUT）供电, 实际上DPS与PMU较为相似, 然而它在电压输出以及测量电流方面拥有比较高的能力, 还要精确测定、支持更大的电流, 就好比DPS其最高能达到安培（A）等级, 不过DPS得能够稳定地驱动更大的电容负载, 以此确保被测物（DUT）处在正常的电压电流环境下工作。

产品优势

在无需进行额外编程的情形之下, ASSP会去执行某些预先进行分配的基本任务, 对于客户而言, 能够显著地减少所需要的产品设计投资量, 在加快最终产品上市时间之际还能帮助把成本给控制住。

在半导体产业的那ATE测试市场当中, 以往的信号链基本上全都是独立着且离散的, 业内处于领先地位的高性能模拟集成电路制造商叫做ADI, 它看到了ATE测试存在的一些共性需求, 结合自身所具备的优势, 进而又把客户的需求整合到一片芯片方面去, 比如说像是把数字技术跟模拟技术结合在一起这种情况而已, 进而做出了一些专门是针对整个ATE测试市场的ASSP。

如此这般去做所具备这种好处, 那便是将ATE多通道测试的通道数量予以提升从而用来付诸并行测试, 与此同时, 还把IC复杂度加以增加进而扩充了特定的测试功能, 跟分立式解决方案相比较之下每通道成本更低, 并且也把每通道于芯片内部所需要的功耗给降低了。所以使用ASSP之后给ATE的设计带来了相当不小的优势。

推荐的产品型号及解析

多年来, 基于ADI的高性能芯片, 与ADI合作了三十多年的技术型授权代理商世健塑造了多个契合客户应用需求的解决办法, 得到了市场层面的承认, 打造出许多贴近客户应用需求的解决方案, 获得该市场的认可。针对ADI所拥有的ASSP系列产品, 世健鉴于此刻的市场状况, 给出相关重点推荐的以下型号。

一款完整的单芯片ATE解决方案是（PE）, 它被用于执行驱动器、比较器和有源负载（DCL）的引脚电子功能, 还用于执行四象限单引脚参数测量单元（PPMU）的引脚电子功能, 该方案提供三种有源模式, 这三种有源模式是高、低、端接模式以及高阻抗抑制状态。

它能够被用作双通道单端引脚的电子通道, 亦或是单差分通道, 具备每通道高速窗口比较器, 以及可编程阈值差分比较器, 同时还集成了校准功能以期支持精确的电平编程, 开路驱动能力处于−1.5 V至+4.5 V 的范围之内, 并且支持各种各样的标准 ATE 以及仪器仪表应用。

供予两种版本, 其一为标准版本, 此版本具备输出摆幅是250 mV的高速比较器输出, 其二为-1版本, 该版本拥有400 mV输出摆幅。

一款高性能、极高集成度的器件电源, 即（DPS）, 它能提供精确可编程的驱动电压, 还有测量范围, 支持多种可编程测量电流范围, 其中涵盖五种内部固定范围, 以及两种外部可选范围, 这两种外部可选范围分别能提供最高达到1.2 A, 还有500 mA的电流。

该产品包含所需的DAC电平, 其拥有设置驱动放大器的可编程输入, 还有箝位和比较器电路, 并且片内集成用于DAC功能的失调, 以及增益校正功能。一方面能达成高电流下的电压范围, 该范围受裕量和最大功耗限制, 另一方面能实现1.2 A以上的电流范围, 或者高电流与高电压的组合, 同时还支持开漏报警输出, 以及开尔文报警。

这款（PMU）是参数测量单元, 它具备高性能, 还有高集成度, 它有四个独立的通道, 其中每个单引脚参数测量单元（PPMU）通道含有五个16位电压输出DAC, 这些16位电压输出DAC能设置驱动电压输入、箝位输入以及比较器输入（高和低）的可编程输入电平, 对吗?

有着五个可编程驱动和测量电流范围, 这范围是±5 μA到±80 mA , 满量程电压范围是-16.25V至+ 22.5V。每一个通道还能提供比较器输出, 这能用来测试和表征器件功能, 还能够通过控制寄存器去更改驱动或者测量条件, 以及DAC电平还有所选电流范围。主要应用于PPMU、DPS、连续性和泄漏测试以及SMU精密测量等等。

综上所讲, 世健持有这样的看法, ATE在芯片的全部制造流程里起着关键作用, 并且源于ADI的ASSP有能力削减ATE的成本以及功耗, 助力ATE更出色地应对芯片自动测试的各类挑战。

关于作者世健——亚太区领先的元器件授权代理商

世健身为完整解决方案的供应商, 给亚洲电子厂商给出原设备生产商（OEM）、原设计生产商（ODM）以及电子制造服务提供商（EMS）等, 供应出优质的元器件、工程设计此外还有供应链管理服务。世健多次被权威杂志以及行业机构, 划分入全球领先分销商榜单。

经历期长超35年, 人员数量逾700名的世健, 其业务扩展到亚太区中49个城市和地区, 这些地方遍布不少国家, 就比方说新加坡、马来西亚、泰国、越南、中国、印度、印度尼西亚、菲律宾以及澳大利亚等大概十多个国家, 有着超过35年历程、含逾700名员工的世健, 于1993年时在香港设立区域总部, 至此世健正式开启发展中国业务之旅, 当下世健在中国大陆拥有十多家分公司存在以及办事处, 分布于中国主要大中型城市, 依赖专业的研发团队, 依托顶尖的现场应用支持, 靠着丰富的市场经验, 世健在中国大陆业内占据有着领先地位。